机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散光谱(SEM / SDD-EDS)和NIST DTSA-II对硼化物,碳化物,氮化物,氧化物和氟化物的电子激发X射线定量分析
机译:用于LOFT宽场监测器的硅漂移检测器(SDD)的X射线成像功能的仿真
机译:优化使用平板探测器获得的X射线透视图像的图像质量。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:用于LOFT宽视场监视器的硅漂移探测器(sDD)的X射线成像能力的模拟